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DSA8300/DSA8200采樣示波器: 10G/25G/40G/100G的測試方案

更新時間:2023-08-22      點擊次數(shù):840

Tektronix DSA8300/DSA8200采樣示波器基礎(chǔ)及應(yīng)用


• 帶寬高達80GHz以上 進行高速的周期脈沖測試 進行高速的串行數(shù)據(jù)分析 

• 噪聲低、高垂直分辨率(14bit) 進行高速的眼圖測試以及噪聲分析。 

• 超低的觸發(fā)抖動(使用82A04的模塊使觸發(fā)抖動減少至200fs) 進行高速的串行數(shù)據(jù)抖動分析


使用Tektronix DSA8300/DSA8200能完成什么測試


•  S參數(shù)測量:DSA8300/DSA8200可以對當(dāng)前和各種新興標準的1 Gb/s到12.5 Gb/s串行數(shù)據(jù)率,實現(xiàn)準確且可重復(fù)的S參數(shù)測量,包括插入損耗、回波損耗、群延遲、相位和幅度不平衡等。


•  眼圖和眼圖輪廓:DSA8300/DSA8200可以利用80Cxx系列模塊的低噪聲和高分辨率,以及80SJNB軟件的先進算法,對高速信號進行眼圖和眼圖輪廓的獲取和分析,從而分離出抖動和噪聲的各個成分,并計算誤碼率和三維眼圖輪廓。


•  時鐘恢復(fù):DSA8300/DSA8200可以使用80A05電氣時鐘恢復(fù)模塊或82A04相位參考模塊,對電氣或光學(xué)信號進行時鐘恢復(fù),并提供內(nèi)部觸發(fā)信號。這些模塊可以支持觸發(fā)模式和自由運行模式,以及擴頻時鐘(SSC)操作。


•  TDR/TDT測量:DSA8300/DSA8200可以使用80E09或80E07雙通道TDR/TDT模塊,對電氣信號進行反射或透射的時域測量,從而檢測信號路徑中的阻抗不匹配、串?dāng)_、傳輸線長度等參數(shù)。


光接口物理層測試:對CRU的要求

光接口物理層測試:噪聲/靈敏度要求


在測試小功率光模塊或者超長波長光模塊時,DUT的光功率會很小。所 以模塊的噪聲必須很低靈敏度很高,達到一定的信噪比,測試的結(jié)果才 能準確,而顯示出來的信號噪聲是真正屬于信號的,而不是模塊自身的 噪聲

光接口物理層測試:對濾波器的要求


測試眼圖模板時, 需要使用Optical Reference Receiver 光參考接收器 (O/E + Filter), 信號首先經(jīng)光電轉(zhuǎn)換, 然后經(jīng)4th Order Bessel-Thomson  濾波器過濾, 按業(yè)界規(guī)范要求, 此濾波器的帶寬要是被測信號速率的 0.75倍。

光接口物理層測試:對波長的要求


• 目前,按照光信號在光纖中的傳播方式有單模與多模之分;其波 長也不一樣。主流的波長有780、850、1310、1550nm 

• 單模:9um光纖直徑,波長多為1310、1550nm 

• 多模:62.5um光纖直徑,波長多為780、850nm


泰克10G/25G/40G/100G的測試方案----模塊概覽


155 Mb/s to 12+ Gb/s Optical Test 



10/40/100GbE Optical Compliance testing in ONE  Instrument


Tektronix DSA8200/DSA8300  Opt. JNB  + 80C08C-CR4  + 80C10B-F1 + 82A04 & 80A06



The only ALL-IN-ONE single instrument solution with: 

• All reference receiver Filters from 8.5Gb/s thru 44.5Gb/s 

• Highest repeatability & best sensitivity 

• Integrated Clock Recovery @ 10G 

• SMF and MMF support @ 10G 

• 200 fs RMS timebase stability 

• 4x fast acquisition throughput over alternative 

• Jitter, Noise, and BER Analysis • Calibrated Extinction-Ratio measurements @ 10G 

• Differential electrical 50 GHz optional (no module swap needed)