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  • 安捷倫 8504B8504B 安捷倫 Agilent 8504B 反射計(jì)
    8504B 安捷倫 Agilent 8504B 反射計(jì)

    8504B 安捷倫 Agilent 8504B 反射計(jì) 504B惠普/安捷倫8504b功能. Return loss measurement range beyond 80 dB回波損耗的測量范圍超出了80分貝. 25 μm two-event resolution (in air, 16 μm in glass) 25 μ m的兩個事件的決議(在空氣中, 16 μ m的玻璃). 1300 and

    更新時間:2024-10-25訪問量:1106
  • 安捷倫 81989A安捷倫 Agilent 81989A 緊湊型可調(diào)激光源
    安捷倫 Agilent 81989A 緊湊型可調(diào)激光源

    安捷倫 Agilent 81989A 緊湊型可調(diào)激光源 1465 納米 至 1575 納米主要特性與技術(shù)指標(biāo). 高光輸出功率: +13 dBm. 寬調(diào)諧范圍: 1465 納米 至 1575 納米. 波長精度 +/-100pm. 內(nèi)置相干控制. 受激布里淵散射抑制

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  • 安捷倫 81594B安捷倫 Agilent 81594B 模塊
    安捷倫 Agilent 81594B 模塊

    安捷倫 Agilent 81594B 模塊 安捷倫 Agilent/HP安捷倫81594B插件模塊詳細(xì)資料: 主要性能指標(biāo): 插入損耗1.5分貝 PDL0.05分貝單一模式選項(xiàng) 高重復(fù)性超過10.000隨機(jī)開關(guān)周期規(guī)定:0.02分貝

    更新時間:2024-10-25訪問量:1007
  • 安捷倫N4906A安捷倫 Agilent N4906A 比特誤碼率測試儀
    安捷倫 Agilent N4906A 比特誤碼率測試儀

    安捷倫 Agilent N4906A 比特誤碼率測試儀 描述3.6 Gb/s串行N4906A串行誤碼儀是一款專為高速數(shù)字通信器件和系統(tǒng)打設(shè)計(jì)3.6 Gb/s通用比特誤碼率測試儀。對于研發(fā)用戶而言,N4906A通過采用純的信號波形、直觀的用戶界面和自動抖動測量軟件,快速、精確地提供測量結(jié)果。對于制造商而言,由于操作人員可以很快就學(xué)會N4906A的操作、同時,它的價格也很有競爭力并能進(jìn)行快速的自動調(diào)整

    更新時間:2024-10-25訪問量:901
  • 安捷倫 86142B安捷倫Agilent 86142B 高性能光譜分析儀
    安捷倫Agilent 86142B 高性能光譜分析儀

    安捷倫Agilent 86142B 高性能光譜分析儀 系列是充分地被適合的一臺水準(zhǔn)光學(xué)的頻譜分析器( OSA )因?yàn)閃DM組成部分和系統(tǒng)測試力量和wavelength準(zhǔn)確性,動態(tài)的范圍和低的極化從屬是關(guān)鍵的應(yīng)用。

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  • AQ6370B橫河AQ6370B Yokogawa 橫河 光譜分析儀
    AQ6370B Yokogawa 橫河 光譜分析儀

    AQ6370B使用新開發(fā)的高性能單色鏡,能夠獲得高波長分辨率(0.02nm)和寬動態(tài)范圍(70dB)。新單色鏡具有更陡峭的光譜特性,可以成功完成50GHz間距DWDM傳輸系統(tǒng)的OSNR測量和對多個波長源的EDFA評估。AQ6370B Yokogawa 橫河 光譜分析儀

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  • Tektronix 80C02Tektronix泰克80C02-CR 示波器光電采樣模塊
    Tektronix泰克80C02-CR 示波器光電采樣模塊

    Tektronix泰克80C02-CR示波器光電采樣模塊 模塊是長波長測試優(yōu)化(1100-1650nm) 以其高光學(xué)帶寬(大于30GHz)也適用于一般用途的高性能

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  • 安捷倫 86120B86120B 安捷倫 Agilent 是德 波長計(jì)
    86120B 安捷倫 Agilent 是德 波長計(jì)

    86120B 安捷倫 Agilent 是德 波長計(jì)的波長精度可幫助您精確測量精密WDM系統(tǒng)中的通道,以監(jiān)測通道的波長變化以及相鄰?fù)ǖ乐g的串?dāng)_。 無需額外的連接和儀器(如衰減器)即可測試發(fā)射機(jī)。內(nèi)置應(yīng)用支持智能獨(dú)立測試,可以減少測試儀表空間需求以及昂貴的測試程序開發(fā)成本。 內(nèi)置HeNe可確保根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),實(shí)時精確測量絕對波長,并保證精確且可再現(xiàn)的試驗(yàn)結(jié)果。

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